CY Wang Research Plan

【王淳右個人研究計畫】2013/10/28

Title: AFM Thermal Probe

利用AFM的高解析度,製作可以整合多功能量測的奈米系統,能夠同時量測表面輪廓以及溫度梯度,並且滿足在奈米尺度下的條件,同時表面也善加利用FIB等奈米製程技術,未來將回進行更進一步的整合。

Key words: FIB, AFM thermal probe, mems

發表迴響

在下方填入你的資料或按右方圖示以社群網站登入:

WordPress.com Logo

You are commenting using your WordPress.com account. Log Out / 變更 )

Twitter picture

You are commenting using your Twitter account. Log Out / 變更 )

Facebook照片

You are commenting using your Facebook account. Log Out / 變更 )

Google+ photo

You are commenting using your Google+ account. Log Out / 變更 )

連結到 %s

%d 位部落客按了讚: